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  • IM3570分析仪9261-10测试治具日本日置HIOKI
    IM3570分析仪9261-10测试治具日本日置HIOKI

    IM3570分析仪9261-10测试治具日本日置HIOKI 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 ● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 ● LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 ● 基本精度±0.08%的高精度测量 ● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量

    更新时间:2020-12-09浏览量:76
  • IM3590分析仪 IM9200测试夹具台 日置HIOKI
    IM3590分析仪 IM9200测试夹具台 日置HIOKI

    IM3590分析仪 IM9200测试夹具台 日置HIOKI 用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容) ● 适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz ~ 200kHz的宽范围信号源 ● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 ● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 ● 较快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化

    更新时间:2018-12-26浏览量:337
  • IM7580A分析仪8949单元日本日置HIOKI优势报价
    IM7580A分析仪8949单元日本日置HIOKI优势报价

    IM7580A分析仪8949单元日本日置HIOKI优势报价 阻抗分析仪IM7580A快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小 ● 测量频率1MHz~300MHz ● 测量时间:快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时

    更新时间:2020-12-10浏览量:59
  • IM7581分析仪9140-10开尔文夹日本日置HIOKI
    IM7581分析仪9140-10开尔文夹日本日置HIOKI

    IM7581分析仪9140-10开尔文夹日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM7581快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频 ● 测量频率1MHz~300MHz ● 测量时间:快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时

    更新时间:2020-12-10浏览量:47
  • IM7583分析仪 8959 8960 8961单元 日置
    IM7583分析仪 8959 8960 8961单元 日置

    IM7583分析仪 8959 8960 8961单元 日置 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:较快0.5ms ● 测量频率:1MHz~600MHz ● 测量时间:较快0.5ms(模拟测量时间) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)

    更新时间:2018-12-21浏览量:211
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